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HTCC

HTCC生瓷带

用于陶瓷封装与多层材料评估的已确认氧化铝型号

HTCC

HTCC型号一览

根据所提供HTCC产品资料转录的代表值

可横向滑动查看全部规格

型号 特点 氧化铝纯度 XY收缩率(%) XY精度 Z收缩率(%) 密度(g/cm³) 抗折强度(MPa) 介电常数(1 MHz) tanδ(1 MHz) 介电常数(10 GHz) tanδ(10 GHz) 热膨胀系数(ppm/K) 热导率(W/m·K) 弹性模量(GPa)
HTKAHP100 标准氧化铝含量 ≥97.5% 13.6 ±0.3% 20–23 3.85±0.05 320 9.5±0.2 <0.45 — 0.006 6.4 ≥28 —
HTKAHP100S 高氧化铝含量 ≥99.6% 15.1 ±0.3% 23 3.87±0.05 400 9.5±1 0.025 — ≥0.025 6.5–7.5 ≥28 —
HTKAHP200 超高氧化铝含量 ≥99.9% 16 ±0.3% 20 3.9±0.05 400 9.5±1 0.025 — ≥0.025 6.5–7.5 ≥28 —

请确认导体体系、烧结条件、测试方法及最新受控TDS

已确认通用范围

尺寸与厚度

生瓷带厚度
55–250 µm
目录最大尺寸
□420 mm
供应条件
需按型号、厚度及项目确认

工艺评估

同步确认氧化铝型号与导体兼容性

选型需确认氧化铝纯度、生瓷与烧后尺寸、收缩、机械性能、导体体系、气氛及烧结曲线

  • 3个已确认HTCC型号
  • 按型号提供氧化铝纯度
  • 按型号提供XY与Z向收缩
  • 导体兼容性需根据最新TDS确认

技术资料

索取最新TDS与样品

请提供烧后尺寸、厚度、氧化铝纯度、收缩公差、导体及烧结要求

索取技术资料/样品